13 september 2017 van 12:45 tot 13:45

Promotie Nadine van der Heijden

Verkenning van de grenzen van ultra hoge resolutie atomaire kracht microscopie

Zowel het streven naar steeds kleinere elektronica als de behoefte aan meer inzicht in de werking van katalysatoren voor energie-efficiënte fabrieken, vereisen een beter begrip van oppervlakken op de atomaire schaal. Met een atomaire-krachtmicroscoop (Engels: Atomic Force Microscope, AFM) kunnen oppervlakken en de moleculen die daarop liggen, vergroot worden afgebeeld. Hiermee kunnen de drijfveren van chemische reacties en elektrische eigenschappen van individuele moleculen en oppervlakken beter worden begrepen. Nadine van der Heijden beschrijft in haar proefschrift nieuwe inzichten in data interpretatie en verbreedt de blik op het type vragen dat beantwoord kan worden met AFM.

Begindatum en -tijd
13 september 2017 12:45
Einddatum en -tijd
13 september 2017 13:45
Promovendus
N.J. van der Heijden
Proefschrift
Stacking it up: Exploring the limits of ultra-high resolution atomic force microscopy
Promotor(es)
prof.dr. D.A.M. Vanmaekelbergh
Co-promotor(es)
dr. I. Swart